X射线荧光光谱分析 微区XRF检测 xrf分析检测报告

XRF一般指X射线荧光光谱分析。 利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。微区XRF技术的原理是利用具有特征波长的X射线与样品表层原子发生反应, 激发其内层电子脱离轨道形成光电子, 而光电子的能量有高度特征性, 通过检测器得到特征响应值可推断样品表面的元素种类并进行半定量分析。该方法早期多应用于矿物研究领域，具体操作可以将平整样品固定于样品台上, 调整样品与探头使焦距合适。以X射线*大功率50 keV进行元素组成分布的能谱面扫, 检测器频率(Tc)=1.0 µs。面扫时, 每点步长根据样品大小和扫描精度确定。

微区XRF技术是表面元素分布特征检测技术的新热点,，可以分析可变质量的液体、固体如聚合物，金属和合金，氧化物，化学试剂，玻璃，矿和食物产品松散粉末，压片，或熔片少量的样品、奇怪的形状和小零件、基质上的单层一 成分和厚度、基质上的多层- 每一层的厚度等微源检测实验室通过微区XRF技术, 从样品培养收集到上机前处理、仪器参数优化、数据处理及导出至外部软件制图, 为广大研究者提供可参考的全流程实验方案。如果您需要了解更多有关微区XRF技术的信息，请联系我们，微源检测实验室工程师将为您一对一的解答问题并提供专业的服务。欢迎致电咨询！