聚硅氧烷涂料基料中硅氧键含量检测 HG/T 4755标准

聚硅氧烷涂料基料中硅氧键（Si-O-Si）含量检测（HG/T 4755标准详解）

聚硅氧烷涂料（Polysiloxane Coatings）因其优异的耐候性、疏水性和化学稳定性，广泛应用于建筑、船舶、工业防腐等领域。硅氧键（Si-O-Si）作为其主链结构，其含量直接影响涂膜性能。HG/T 4755-2014《聚硅氧烷涂料》标准规定了硅氧键含量的检测方法，以下是详细解读。

一、HG/T 4755标准适用范围

• 适用产品：以聚硅氧烷树脂为基料的溶剂型或水性涂料。

• 检测目标：

• 硅氧键（Si-O-Si）含量（反映树脂交联度）

• 有机硅改性比例（如与环氧、丙烯酸等共聚物中的硅氧键占比）

二、硅氧键含量检测方法

1. 红外光谱法（FTIR）（HG/T 4755推荐方法）

原理：通过红外光谱中Si-O-Si特征吸收峰（通常位于1000-1100 cm⁻¹）的强度定量分析。

步骤：

1. 样品制备：

• 涂料涂覆成膜后固化，研磨成粉末（或直接测试液态树脂）。

• 采用KBr压片法或ATR（衰减全反射）模式。

2. 仪器参数：

• 扫描范围：4000-400 cm⁻¹

• 分辨率：4 cm⁻¹

3. 数据分析：

• 计算Si-O-Si峰面积（如1050 cm⁻¹处），对比标准曲线或内标法（如苯环峰1600 cm⁻¹）定量。

2. 核磁共振法（²⁹Si-NMR）（高精度方法，非HG/T 4755标准方法）

• 可区分Si-O-Si（Q⁴）、Si-OH（Q³）等不同硅结构。

• 需溶解样品（如CDCl₃或DMSO-d₆），设备成本较高。

3. 热重分析法（TGA）（辅助手段）

• 通过加热分解（通常500-800℃）计算有机硅组分残留量，间接反映Si-O-Si含量。

三、HG/T 4755其他关键性能指标