铝合金平均晶粒度测定——ASTM E112-13标准详解
ASTM E112-13《Standard Test Methods for Determining Average GrainSize》是金属材料(包括铝合金)晶粒度测定的国际通用标准,适用于铸造、轧制、锻造等不同加工状态的铝合金(如6061、7075、A356等)。
1. 适用范围
材料:铝合金、铜合金、钢铁等金属及合金。
晶粒类型:等轴晶、柱状晶、孪晶(需特殊标注)。
晶粒度范围:
0~10级(ASTM晶粒等级,对应晶粒尺寸约5~500 μm)。
超细晶(纳米晶)需结合电子显微镜(SEM/TEM)。
2. 检测原理
通过金相显微镜观察抛光腐蚀后的样品,采用以下方法之一定量晶粒度:
截点法(Intercept Method):统计单位长度内晶界交点数。
面积法(Planimetric Method):计算单位面积内晶粒数量。
比较法(Comparison Chart):与标准图谱(如ASTM E112附图)对比。
Zui常用方法:截点法(精度高,适用于非等轴晶)。
3. 检测流程(ASTM E112-13)
(1) 样品制备
取样:
铸件:取典型部位(如壁厚中心)。
轧制件:沿纵向(L)、横向(T)、法向(S)三方向取样。
镶嵌:不规则样品用树脂冷镶或热镶。
研磨抛光:
砂纸逐级研磨(#180→#1200 SiC)。
Zui终抛光(0.05 μm氧化铝或金刚石悬浮液)。
腐蚀:
Keller试剂(2% HF + 3% HCl + 95% H₂O,5~30秒)显示晶界。
阳极覆膜(必要时,增强晶界对比度)。
(2) 显微镜观察
放大倍数:100×~500×(确保视场内≥50个晶粒)。
校准:使用标准刻度尺校正放大倍数误差。
(3) 截点法操作步骤
叠加测试网格:
圆形网格(3~5个同心圆,总周长≥500 mm)。
直线网格(至少5条平行线,间距≥晶粒直径)。
统计截点数:
计算测试线与晶界的交点数量(�P)。
避免重复计数同一晶界。
计算平均截距(�‾L):
�‾=���⋅�L=P⋅MLT
��LT:测试线总长度(mm)。
�M:放大倍数(如100×记为100)。
ASTM晶粒等级(�G):
�=(−6.644log10�‾)−3.288G=(−6.644log10L)−3.288
(�‾L单位为mm)
示例:
测得�‾=0.05 mmL=0.05mm → �≈7.5G≈7.5。
4. 结果表示与误差控制
(1) 晶粒度表示
ASTM等级(G):如G=7。
平均晶粒直径(μm):可通过�‾L换算。
各向异性:需分别报告L、T、S方向的晶粒度。
(2) 精度要求
视场数:至少5个不同区域取平均值。
重复性:同一操作者误差≤±0.5级。
再现性:不同实验室误差≤±1.0级。
5. 替代方法对比
方法 | 适用场景 | 优点 | 缺点 |
---|---|---|---|
截点法 | 非等轴晶、大晶粒 | 精度高、可测各向异性 | 操作复杂 |
比较法 | 快速筛查、等轴晶 | 简单直观 | 主观性强 |
图像分析 | 自动统计(如SEM/EBSD) | 高效、可测纳米晶 | 设备成本高 |
6. 验收标准(参考)
铝合金晶粒度通常根据应用需求制定,例如:
航空件(如7075-T6):G≥5(晶粒尺寸≤90 μm)。
汽车件(如A356-T6):G=4~6(保证强度与韧性平衡)。
7. 检测报告要求
样品信息:合号、热处理状态、取样方向。
检测标准:ASTM E112-13。
设备参数:显微镜型号、放大倍数、网格类型。
数据记录:截点数、平均截距、ASTM等级。
结论:晶粒度是否达标(如G=7±0.5)。
8. 注意事项
腐蚀控制:过度腐蚀会导致晶界模糊,影响计数。
代表性取样:避免在变形剧烈区(如焊缝)单独取样。
非等轴晶:需分别报告不同方向的晶粒度(如G_L、G_T)。