X射线荧光光谱分析 微区XRF检测 xrf分析检测报告

XRF一般指X射线荧光光谱分析。利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。微区XRF技术的原理是利用具有特征波长的X射线与样品表层原子发生反应, 激发其内层电子脱离轨 道形成光电子, 而光电子的能量有高度特征性, 通过检测器得到特征响应值可推断样品表面的元素种类 并进行半定量分析。该方法早期多应用于矿物研究领域，具体操作可以将平整样品固定于样品台上,调整样品与探头使焦距 合适。以X射线*大功率50 keV进行元素组成分布的能谱面扫, 检测器频率(Tc)=1.0 µs。面扫时,每点步 长根据样品大小和扫描精度确定。

微区XRF技术是表面元素分布特征检测技术的新热点,，可以分析可变质量的液体、固体如聚合物，金属和合金，氧化物，化学试剂，玻璃，矿和食物产品松散粉末，压片，或熔片少量的样品、奇怪的形状和小零件、基质上的单层一成分和厚度、基质上的多层- 每一层的厚度等微源检测实验室通过微区XRF技术, 从样品培养收集到上机前处理、仪器参数优化、数据处理及导出至外部软件制图, 为广大研究者提供可参考的全流程实验方案。如果您需要了解更多有关微区XRF技术的信息，请联系我们，微源检测实验室工程师将为您一对一的解答问题并提供专业的服务。欢迎致电咨询！