工作原理：
对于X射线，在其穿透被测材料后，X射线强度I 的衰减规律为 I=Ioe -μd，Io 为初始射线强度，I 为穿过物体后的射线强度，μ 为吸收系数，d为射线穿过的厚度（克重）；当 μ 和 Io 一定时，I 仅仅是被测材料 d 的函数，所以测出 I就可以知道厚度（克重）d。X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测物所吸收的X射线能量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度（克重）。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由处理系统转换为可供人们观看的实际厚度的数值或图形。
产品优势：
☆采用X射线传感器，灵活适应各行业品种多、工艺复杂、质量要求严苛的使用环境，设备获国家环保豁免，无需申请及备案，使用方便
☆高精度“O”型扫描架和电机控制
☆具有导轨自动补偿功能
☆高清洁设计，不会对被测产品造成任何污染
☆上下探头机械误差：±0.03mm；扫描定位精度：1mm； 测量速度：2500个测量值/秒
技术参数:
测量范围：10 〜 6000μm
再现性：±0.10gsm或±0.025%，以较高者为准
扫描速度：1.0〜 6m/min
供电电压：AC220 500W
工作温度：0-50 ℃
系统的反应时间：≤ 0.5 秒
