涂层薄厚检测检验原材料表层的金属材料和金属氧化物覆层的薄厚检测。检验办法有 1. 金相分析法 2. 库伦法 3. X-ray方式。
金相分析法:选用金相显微镜检验横剖面,以测量金属材料土壤层、空气氧化膜层的部分薄厚。
一般薄厚检验必须超过1um,才可以确保检测结果显示在偏差范畴以内;薄厚越大,偏差越小。库伦法:合适测量单面和双层金属材料土壤层薄厚阳极氧化融解库伦法,包含测量双层管理体系,如Cu/Ni/Cr及其铝合金土壤层和细晶强化蔓延层的薄厚。不但能够测量平面图试件的土壤层薄厚,还能够测量圆柱型和线缆的土壤层薄厚,特别是在合适测量双层镍涂层的金属材料以及电势差。
测量涂层的类型为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。X-ray方式:适用测量电镀工艺及电子器件pcb线路板等领域必须剖析的金属材料土壤层薄厚。
包含:金(Au),银(Ag),锡(Sn),铜(Cu),镍(Ni),铬(Cr)等化学元素薄厚。本测量法可测量三层土壤层管理体系,或测量三层成分的薄厚和成份。
金相分析法:运用金相显微镜基本原理,对涂层薄厚开展变大,便于的观察及测量。
库伦法:运用合理的锂电池电解液阳极氧化融解限制总面积的土壤层,电解池工作电压的骤然转变说明土壤层本质上彻底融解,历经耗用的电量计算出土壤层的薄厚。因阳极氧化融解的办法不一样,被测量土壤层的薄厚耗用的电能也不一样。用恒定电流相对密度融解时,可由实验逐渐到实验停止的计算时间;用非恒定电流相对密度融解时,由积累所耗电量计算,积累所用电量由电量计总计表明。
X-ray 方式:X射线光谱仪方式测量土壤层薄厚是根据一束明显而狭小的混色X射线与基材和土壤层的相互影响。此相互影响造成离散变量光波长和力量的二次辐射源,这种二次辐射源具备组成土壤层和基材原素特点。土壤层企业总面积品质(若相对密度已经知道,则为土壤层线形薄厚)和二次辐照度中间具有一定的关联。该关联Zui先由已经知道企业总面积品质的土壤层校准规范块校准明确。若土壤层原材料的相对密度已经知道,又得出具体的相对密度,则那样的规范块就能得出土壤层线形薄厚。