YT-H4E电脑薄膜测厚仪

电脑薄膜测厚仪是薄膜厚度测定的专用仪器，广泛适用于片状材料厚度测定；是包装、科研及产品质量监督检验等行业和部门理想的试验设备。

应用范围

l 薄膜

产品特性

l 一键测试，简单易懂

l ARM处理器，提高了仪器的响应速度，计算快速

l 测头上升下降速度可调

l 突然断电数据保存功能，开机后断电前的数据保留并可继续测试。

l 自动测量、统计、打印测试结果

l 可配合微机软件进行通讯(另购)

执行标准

GB/T 451.3，QB/T 1055，GB/T24328.2，ISO 534，GB/T 6672

主要技术参数

l 电源电压            AC(100～240)V，(50/60)Hz 50W

l 工作环境            温度(10～35)℃，相对湿度≤ 85％

l 显示                7寸彩色触摸显示屏           

l 测量范围            (0～4)mm         

l 分辨率            0.0001mm             

l 示值误差            ±1um

l 示值变动性        ±1um   

l 接触面积            50 mm²      

l 接触压力            (17.5±1)kPa      

l 测头下降速度       （0.5～10）mm/s可调

l 打印                 热敏打印机

l 通信接口             RS232(默认)(USB,WIFI可选)

l 外形尺寸           360×245×430 mm

l 仪器净重            约27kg